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丹麦雷泰克 leitech 光面规
Plain Gauge光面规
作为leitech产品的一个补充,用于检测光面孔的尺寸公差和深度。公差在±2um的范围内。
这种光面规可以通过:High-resolution, Combi, Digi 和Traditional Gauge塞规的形式实现。
对于此类产品,提供相应的拆换工具和校准工具。