丹麦雷泰克 leitech 光面规

丹麦雷泰克 leitech 光面规

Plain Gauge光面规

作为leitech产品的一个补充，用于检测光面孔的尺寸公差和深度。公差在±2um的范围内。

这种光面规可以通过:High-resolution, Combi, Digi 和Traditional Gauge塞规的形式实现。

对于此类产品，提供相应的拆换工具和校准工具。